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本文標題:"電鏡的分辨率和放大倍率試樣分析便攜顯微鏡"

發布者:yiyi ------ 分類: 行業動態 ------ 人瀏覽過-----時間:2020-7-19 2:0:53

電鏡的分辨率和放大倍率試樣分析便攜顯微鏡

 
 
以調制顯相管的亮度,由于顯相
    管中的電子束與鏡簡中的電子束是同步掃描的,顯相管亮度是
    由試樣激發出來的電子信息強度調制的,因此在試樣表面上任
    一點所收集的信息強度與顯相管屏上相應點的亮度之間是一一
    對應的,由此,試樣狀態不同,相應的亮度也不同,可見得到
    的象一定是試樣狀態的反映。設置試樣旁的波譜儀和能譜儀,   
    是用來收集特征X射線以實現試樣微區成份的定性及定量分析。  
 
 
    逐點記錄的,因此,試樣各點所激發出來的各種信息都可選錄   
    出來,并同時在顯相管上或X—Y記錄儀上顯示記錄下來,給試
    樣的綜合分析帶來極大的方便。
 
掃描電鏡的分辨率和放大倍率
    掃描電鏡的分辨率有兩種意義,對微區成份分析而言,它
    是指能分析的最小區域。對成象而言,它是指能分辨兩點間最
    小的距離,這兩者主要決定于入射電子束直徑,但并不直接等
    于直徑,因為入射電子束與試樣相互作用,會使入射電子束在
    試樣內的有效激發范圍大大超過入射電子束的直徑,從前圖
    2—29可知,入射電子束在透過試樣被散射或吸收之前,將在試
    樣表面下層范圍內運動,并激發出各種信息,這些信息的能量, 
    穿透能力都各不相同。只有在一定深度,一定能量的電子才能
    逸出表面,才會被檢測到,例如二次電子在入射電子束轟擊
    下,只有表層下5—50埃厚度范圍內的二次電子才能逸出表
    面。在這樣深度范圍內,電子基本上還是按入射方向前進的,
    所以二次電子發射的廣度與入射電子束直徑相差無幾,故分辨
    率高。一般用于觀察表面微形貌和微細結構以及斷口面
 

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